X射線(xiàn)探傷簡(jiǎn)介(一)
射線(xiàn)探傷是利用射線(xiàn)可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來(lái)發(fā)現其中缺陷的一種無(wú)損探傷方法。它可以檢查金屬和非金屬材料及其制品的內部缺陷,如焊縫中的氣孔、夾渣、未焊透等體積性缺陷。這種無(wú)損探傷方法有獨特的優(yōu)越性,即檢驗缺陷的直觀(guān)性、準確性和可靠性,而且,得到的射線(xiàn)底片可用于缺陷的分析和作為質(zhì)量憑證存檔。但此法也存在著(zhù)設備較復雜、成本較高的缺點(diǎn),并需要對射線(xiàn)進(jìn)行防護。
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