射線(xiàn)探傷是利用射線(xiàn)可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來(lái)發(fā)現其中缺陷的一種無(wú)損探傷方法。它可以檢查金屬和非金屬材料及其制品的內部缺陷,如焊縫中的氣孔、夾渣、未焊透等體積性缺陷。這種無(wú)損探傷方法有獨特的優(yōu)越性,即檢驗缺陷的直觀(guān)性、準確性和可靠性,而且,得到的射線(xiàn)底片可用于缺陷的分析和作為質(zhì)量憑證存檔。但此法也存在著(zhù)設備較復雜、成本較高的缺點(diǎn),并需要對射線(xiàn)進(jìn)行防護。
X射線(xiàn)的產(chǎn)生
用來(lái)產(chǎn)生X射線(xiàn)的裝置是X射線(xiàn)管。它由陰極、陽(yáng)極和真空玻璃(或金屬陶瓷)外殼組成,其簡(jiǎn)單結構和工作原理如圖1所示。陰極通以電流加熱至白熾狀態(tài)時(shí),其陽(yáng)極周?chē)纬呻娮釉?,當在?yáng)極與陰極間施加高壓時(shí),電子加速穿過(guò)真空空間,高速運動(dòng)的電子束集中轟擊陽(yáng)極靶子的一個(gè)面積(幾平方毫米左右、稱(chēng)實(shí)際焦點(diǎn)),電子被阻擋減速和吸收,其部分動(dòng)能(約1%)轉換為X射線(xiàn),其余99%以上的能量變成熱能。
圖1 X射線(xiàn)的產(chǎn)生示意圖
X射線(xiàn)的主要性質(zhì)
?不可見(jiàn),以光速直線(xiàn)傳播。
?具有可穿透可見(jiàn)光不能穿透的物質(zhì)如骨骼、金屬等的能力,并且在物質(zhì)中有衰減的特性。
?可以使物質(zhì)電離,能使膠片感光,亦能使某些物質(zhì)產(chǎn)生熒光。
γ射線(xiàn)的產(chǎn)生及性質(zhì)
γ射線(xiàn)是由放射性物質(zhì)(60Co、192Ir等)內部原子核的衰變過(guò)程產(chǎn)生的。
γ射線(xiàn)的性質(zhì)與X射線(xiàn)相似,由于其波長(cháng)比X射線(xiàn)短,因而射線(xiàn)能量高,具有更大的穿透力。例如,目前廣泛使用的γ射線(xiàn)源60Co,它可以檢查250mm厚的銅質(zhì)工件、350mm厚的鋁制工件和300mm厚的鋼制工件。
射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用
當射線(xiàn)穿透物質(zhì)時(shí),由于物質(zhì)對射線(xiàn)有吸收和散射作用,從而引起射線(xiàn)能量的衰減。
射線(xiàn)在物質(zhì)中的衰減是呈負指數規律變化的,以強度為I0的一束平行射線(xiàn)束穿過(guò)厚度為δ的物質(zhì)為例,穿過(guò)物質(zhì)后的射線(xiàn)強度為:
I=I0e-μδ
式中:
I:射線(xiàn)透過(guò)厚度δ的物質(zhì)的射線(xiàn)強度;
I0:射線(xiàn)的初始強度;
e:自然對數的底;
δ:透過(guò)物質(zhì)的厚度;
μ:衰減系數(㎝-1)
射線(xiàn)照相法
射線(xiàn)照相法是根據被檢工件與其內部缺陷介質(zhì)對射線(xiàn)能量衰減程度的不同,使得射線(xiàn)透過(guò)工件后的強度不同,使缺陷能在射線(xiàn)底片上顯示出來(lái)的方法。如圖2所示,從X射線(xiàn)機發(fā)射出來(lái)的X射線(xiàn)透過(guò)工件時(shí),由于缺陷內部介質(zhì)對射線(xiàn)的吸收能力和周?chē)旰貌课徊灰粯?,因而透過(guò)缺陷部位的射線(xiàn)強度不同于周?chē)旰貌课?。把膠片放在工件適當位置,在感光膠片上,有缺陷部位和無(wú)缺陷部位將接受不同的射線(xiàn)曝光。再經(jīng)過(guò)暗室處理后,得到底片。然后把底片放在觀(guān)片燈上*可以明顯觀(guān)察到缺陷處和無(wú)缺陷處具有不同的黑度。評片人員據此*可以判斷缺陷的情況。
圖2射線(xiàn)照相法原理
射線(xiàn)熒光屏觀(guān)察法
熒光屏觀(guān)察法是將透過(guò)被檢物體后的不同強度的射線(xiàn),投射在涂有熒光物質(zhì)的熒光屏上,激發(fā)出不同強度的熒光而得到物體內部的影象的方法。
此法所用設備主要由X射線(xiàn)發(fā)生器及其控制設備﹑熒光屏﹑觀(guān)察和記錄用的輔助設備﹑防護及傳送工件的裝置等幾部分組成。檢驗時(shí),把工件送至觀(guān)察箱上,X射線(xiàn)管發(fā)出的射線(xiàn)透過(guò)被檢工件,落到與之緊挨著(zhù)的熒光屏上,顯示的缺陷影象經(jīng)平面鏡反射后,通過(guò)平行于鏡子的鉛玻璃觀(guān)察。
熒光屏觀(guān)察法只能檢查較薄且結構簡(jiǎn)單的工件,同時(shí)靈敏度較差,*高靈敏度在2%~3%,大量檢驗時(shí),靈敏度*高只達4%~7%,對于微小裂紋是無(wú)法發(fā)現的。
射線(xiàn)實(shí)時(shí)成象檢驗
射線(xiàn)實(shí)時(shí)成象檢驗是工業(yè)射線(xiàn)探傷很有發(fā)展前途的一種新技術(shù),與傳統的射線(xiàn)照相法相比具有實(shí)時(shí)、高效、不用射線(xiàn)膠片、可記錄和勞動(dòng)條件好等顯著(zhù)優(yōu)點(diǎn)。由于它采用X射線(xiàn)源,常稱(chēng)為X射線(xiàn)實(shí)時(shí)成象檢驗。國內外將它主要用于鋼管、壓力容器殼體焊縫檢查;微電子器件和集成電路檢查;食品包裝夾雜物檢查及海關(guān)安全檢查等。
這種方法是利用小焦點(diǎn)或微焦點(diǎn)X射線(xiàn)源透照工件,利用一定的器件將X射線(xiàn)圖象轉換為可見(jiàn)光圖象,再通過(guò)電視攝象機攝象后,將圖象直接或通過(guò)計算機處理后再顯示在電視監視屏上,以此來(lái)評定工件內部的質(zhì)量。通常所說(shuō)的工業(yè)X射線(xiàn)電視探傷,是指X光圖象增強電視成象法,該法在國內外應用*為廣泛,是當今射線(xiàn)實(shí)時(shí)成象檢驗的主流設備,其探傷靈敏度已高于2%,并可與射線(xiàn)照相法相*。該法探傷系統基本組成如圖3所示。
圖3 X光電增強—電視成法探傷系統
1:射線(xiàn)源;
2、5:電動(dòng)光闌;
3:X射線(xiàn)束;
4:工件;
6:圖象增強器:
7:耦合透鏡組;
8:電視攝象機;
9:控制器;
10:圖象處理器;
11:監視器;
12:防護設施。
射線(xiàn)計算機斷層掃描技術(shù)
計算機斷層掃描技術(shù),簡(jiǎn)稱(chēng)CT(Computertomography)。它是根據物體橫斷面的一組投影數據,經(jīng)計算機處理后,得到物體橫斷面的圖象。其裝置結構如圖4所示。
圖4射線(xiàn)工業(yè)CT系統組成框圖
1:射線(xiàn)源;
2:工件;
3:檢測器;
4:數據采集部;
5:高速運算器;
6:計算機CPU;
7:控制器;
8:顯示器;
9:攝影單元;
10:磁盤(pán);
11:防護設施;
12:機械控制單元;
13:射線(xiàn)控制單元;
14:應用軟件;
15:圖象處理器。
射線(xiàn)源發(fā)出扇形束射線(xiàn),被工件衰減后的射線(xiàn)強度投影數據經(jīng)接收檢測器(300個(gè)左右,能覆蓋整個(gè)扇形掃描區域)采集,并進(jìn)行從模擬量到數字量的高速A/D轉換,形成數字信息。在一次掃描結束后,工作轉動(dòng)一個(gè)角度再進(jìn)行下一次掃描,如此反復下去,即可采集到若干組數據。這些數字信息在高速運算器中進(jìn)行修正﹑圖象重建處理和暫存,在計算機CPU的統一管理及應用軟件支持下,便可獲得被檢物體某一斷面的真實(shí)圖象,顯示于監視器上。